ISMQC-10, 10th International Symposium on Measurement and Quality Control September 5 - 9, 2010, Convention Center, Osaka University, Osaka, Japan ; abstracts and program

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: ISMQC (VerfasserIn), International Measurement Confederation Technical Committee Measurement of Geometrical Quantities (BerichterstatterIn), Ōsaka Daigaku (BerichterstatterIn), Seimitsu-kōgakkai (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Tokyo JSPE Techn. Committee for Intelligent Nano-Measure 2010
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Beschreibung
Beschreibung:208 S.
Ill., Kt.
ISBN:9784990511913
978-4-9905119-1-3