Focused ion beam systems : basics and applications

Focused ion beam systems basics and applications

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Yao, Nan (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Cambridge u.a. Cambridge Univ. Press 2010
Ausgabe:1. publ., 1. paperb. ed.
Schlagworte:
Focused ion beams > Industrial applications > Aufsatzsammlung > Ionenstrahl > Oberflächenanalyse > Fokussierung
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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