X-ray optics and microanalysis proceedings of the 20th international congress, Karlsruhe, Germany, 15 - 18 September 2009 ; [ICXOM20]

Advances in instrumentation, detection, and methodology -- X-ray optics monochromators and multilayers, focusing optics -- Quantitative and multivariate analysis -- Imaging techniques and image processing -- Applications of nano-, micro-, and surface analysis techniques.

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Denecke, Melissa A. (BerichterstatterIn), Walker, Clive T. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Melville, NYk American Inst. of Physics 2010
Schriftenreihe:	AIP conference proceedings 1221
Schlagworte:	X-ray optics > Materials > Microscopy > X-ray microanalysis > X-ray microscopes > Konferenzschrift > Röntgenoptik > Elektronenstrahlmikroanalyse
Online Zugang:	Verlagsangaben Abstracts
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