Visualization and data analysis 2010 18 - 19 January 2010, San Jose, California, United States ; proceedings IS&T/SPIE electronic imaging, science and technology

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Society for Imaging Science and Technology (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Park, Jinah (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE u.a. 2010
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 7530
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