Proceedings / 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 16 - 18, 2008, Bratislava, Slovakia

Proceedings / 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems April 16 - 18, 2008, Bratislava, Slovakia

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Straube, Bernd (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2008
Schlagworte:
Integrated circuits > Testing > Design > Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:X, 346 S.
graph. Darst.
ISBN:9781424422760
978-1-4244-2276-0