Detection and location of multiple stuck-type failures in sequential circuits

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Chang, Shih-Jeh (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Su, Stephen Y. H. (VerfasserIn), Breuer, Melvin A. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Long Beach, Calif. IEEE CS 1972
Schriftenreihe:	Selection from the IEEE Computer Society repository R-72-223
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