A periodic review inventory model subject to shrinkage type errors impact of RFID

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International journal of electronic business
1. Verfasser: Rekik, Yacine (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Jemai, Zied (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2009
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Beschreibung
Beschreibung:graph. Darst.
ISSN:1470-6067