ESD UV-EPROM a comparative ESD susceptibility test of 6 different CMOS UV-EPROM variants, type 27C64 and 27C256

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Christensen, Mogens Bo (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Hørsholm Elektronikcentralen 1987
Schriftenreihe:EC-report 208
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Beschreibung
Beschreibung:4 Bl., 85 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:8773980986
87-7398-098-6