Proceedings / Sixth International Workshop on Microprocessor Test and Verification common challenges and solutions ; Austin, Texas, 3 - 4 November 2005

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Abadir, Magdy S. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE 2006
Schlagworte:	Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	Auf der Haupttitels. auch: MTV 2005 Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:	X, 143 S. graph. Darst.
ISBN:	0769526276 0-7695-2627-6 9780769526270 978-0-7695-2627-0