Proceedings / Sixth International Workshop on Microprocessor Test and Verification common challenges and solutions ; Austin, Texas, 3 - 4 November 2005

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Abadir, Magdy S. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE 2006
Schlagworte:	Konferenzschrift
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