Abstracts / 17th World Conference on Nondestructive Testing Shanghai, China, October 25 - 28, 2008

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Committee for Non-Destructive Testing (BerichterstatterIn), Zhongguo-Wusun-Jiance-Xuehui (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Shanghai 2008
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Beschreibung
Beschreibung:578 S.