Elektrochemische Nanostrukturierung von Si-Oberflächen durch selektives Ritzen von isolierenden Dünnfilmen mit dem Rasterkraftmikroskop

Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2007

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zhang, Yan (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2007
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