Pattern recognition : 30th DAGM symposium, Munich, Germany, June 10-13, 2008 ; proceedings

Pattern recognition 30th DAGM symposium, Munich, Germany, June 10-13, 2008 ; proceedings

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Symposium Mustererkennung (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Rigoll, Gerhard (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer 2008
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 5096
Schlagworte:
Konferenzschrift > CD-ROM > Mustererkennung
Online Zugang:Inhaltstext
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