Modelling and reliability assessment of microsystem interconnections

Zugl.: Göteborg, Univ., Diss., 2007

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Zhang, Yan (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Göteborg Chalmers Univ. of Technology 2007
Schriftenreihe:	Doktorsavhandlingar vid Chalmers Tekniska Högskola N.S., 2698
Schlagworte:	Hochschulschrift
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