Pattern recognition 30th DAGM Symposium, Munich, Germany, June 10-13, 2008 ; proceedings

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Symposium Mustererkennung (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Rigoll, Gerhard (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin u.a. Springer 2008
Schriftenreihe:	Lecture notes in computer science 5096
Schlagworte:	Image processing > Digital techniques > Optical pattern recognition > Congresses > Konferenzschrift > Mustererkennung
Online Zugang:	Inhaltstext
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