Untersuchung des Rauschens in komplementären Metall-Oxis-Halbleiter-Ringoszillatoren

Stuttgart, Univ., Diss., 2007

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Grözing, Markus (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 2007
Schlagworte:
Hochschulschrift > CMOS > Integrierte Schaltung > Thermisches Rauschen > Eins-durch-f-Rauschen > Ringoszillator > Jitter-Effekt > Phasenrauschen
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