Proceedings of the Fifth International Conference on LEEM/PEEM, Himeji, Japan, 15 - 19 Ocotber 2006

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	International Conference on LEEM PEEM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Altman, Michael (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 2007
Schriftenreihe:	Surface science 601.2007,20
Schlagworte:	Konferenzschrift > Photoemissionselektronenmikroskopie > Niedrige Energie > Elektronenmikroskopie
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Beschreibung
Beschreibung:	XVI S., S. 4664 - 4773 zahlr. Ill., graph. Darst