Micro and nano mechanical testing of materials and devices

Micro and nano mechanical testing of materials and devices

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Yang, Fuqian (HerausgeberIn), Li, James C. M. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, NY Springer 2008
Schlagworte:
Materials > Testing > Microelectromechanical systems > Nanoelectromechanical systems > Aufsatzsammlung > Werkstoffprüfung > Mechanische Eigenschaft > Härteeindruck > Nanometerbereich > Nanostruktur > MEMS > Nanoelektromechanik > Zuverlässigkeit
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Beschreibung
Beschreibung:XIII, 387 S.
Ill., graph. Darst.
24cm
ISBN:0387787003
0-387-78700-3
9780387787008
978-0-387-78700-8