Nanometer technology designs high-quality delay tests

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Tehranipoor, Mohammad (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Ahmad, Nisar (VerfasserIn), Ahmed, Nisar (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY Springer 2008
Schlagworte:	Integrated circuits > Testing > Very large scale integration > Nanotechnology > Elektronisches Bauelement > Nanotechnologie
Online Zugang:	Cover Einführung/Vorwort Kapitel 1 Inhaltsverzeichnis
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