Proceedings / 12th IEEE European Test Symposium, ETS 2007 : 20 - 24 May 2007, Freiburg, Germany

Proceedings / 12th IEEE European Test Symposium, ETS 2007 20 - 24 May 2007, Freiburg, Germany

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society c2007
Schlagworte:
Integrated circuits > Testing > Konferenzschrift > Chip > Testen
Online Zugang:Table of contents
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