Special issue on VLSI design and test (VLSI 2003) [... the International Conference on VLSI ...]

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Yang, Laurence T. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 2007
Schriftenreihe:	Microelectronic Engineering 84.2007,2
Schlagworte:	Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	S. 193 - 374 Ill., graph. Darst.