Auger electron spectroscopy and its application in studies of some silicon surfaces

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Heckingbottom, R. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Todd, C. J. (VerfasserIn), Wood, P. R. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Ipswich Post Office 1973
Schriftenreihe:	Research Department report / Post Office Research Department, Telecommunications Headquarters, Post Office Research Centre 330
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