Optical test and measurement technology and equipment 2nd International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies; 2 - 5 November 2005, Xian, China Pt. 2

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Zhong guo guang xue xue hui (BerichterstatterIn), Zhongguo ke xue yuan Guang dian ji shu yan jiu suo (BerichterstatterIn), International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Hou, Xun (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2006
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 6150
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