Mathematical methods in pattern and image analysis : 3 - 4 August 2005, San Diego, California, USA

Mathematical methods in pattern and image analysis 3 - 4 August 2005, San Diego, California, USA

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Astola, Jaakko T. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2005
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 5916
Schlagworte:
Image processing > Mathematics > Digital techniques > Pattern recognition systems > Nonlinear optics > Neural networks (Computer science) > Konferenzschrift > Mustererkennung > Bilderkennung > Mathematische Methode
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