Thin film microelectrode arrays for electrochemical biosensors

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Maschinenbau im Informationszeitalter ; Bd. 1: [Vortragsreihen
Weitere Verfasser: Novotny, I. (BerichterstatterIn), Breternitz, Volkmar (BerichterstatterIn), Ivanic, R. (BerichterstatterIn), Knedlik, Christian (BerichterstatterIn), Tvarozek, Vladimir (BerichterstatterIn), Spieß, Lothar (BerichterstatterIn), Rehacek, Vlastimil (BerichterstatterIn)
Pages:1
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 1999
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Titel Jahr Verfasser
Mechanical engineering in the information era 1999 Airila, Mauri
Automatisches intelligentes optisches Messsystem AIMS 1999 Kempny, Milan
Erfahrungen beim Einsatz von Leuchtdichte-Analysatoren 1999 Wolf, Stefan
Lösungsbeispiele für quantitative Rastersondenmikroskopie in der Mikro- und Nanotechnik 1999
Dynamische Temperaturkompensation von Präzisionsmeßgeräten 1999
Hochtemperatur-Prozeßmikroskop : Gerätekonzept und Anwendungen 1999 Hamann, Bernd
3D-Modellierung der Beugung und Streuung an technischen Oberflächen 1999 Pichlmaier, Stephan
Strategien zur Rückkopplung in aktiven Sehsystemen 1999 Bock, Andreas
Entwicklung eines parallelen Bildverarbeitungssystems mit DSP's zur Realisierung von Qualitätssicherungsaufgaben 1999 Czerner, Frank
Bildverarbeitungsstrategien für ein paralleles 3D-Messverfahren 1999 Hamatschek, U.
Multilayer gratings : characterization and application 1999
Der Massekomparator - hochgenaue Massebestimmung an der Grenze des technisch Möglichen 1999 Fehling, Thomas
Gegenüberstellung von Meßverfahren zur Retroreflexion 1999 Slabke, Uwe
Lasernanomeßtechnik - Möglichkeiten, Grenzen und Anwendungen in der modernen Gerätetechnik 1999 Jäger, Gerd
Temperatursensoren mit integrierten Miniatur-Fixpunktzellen für den Kraftwerkseinsatz 1999
MIS sensors for gas concentration measurements and reactivity diagnostics of thin metallic layers 1999
Methoden zur Schätzung fraktaler Parameter der Mikrogeometrie von Oberflächen 1999 Jahn, Rainer
Das streulichtoptische Defektmodell zur Bestimmung der Mikrotopografie von mechanisch bearbeiteten Halbleiter-Oberflächen 1999 Hertzsch, Albrecht
Antastverfahren und Messunsicherheiten metrischer Bildverarbeitungsverfahren 1999 Funk, W.
Teleservice : Demoprogramm zur Nutzung in einem Maschinenbaubetrieb 1999 Braunschweig, Marion
Alle Artikel auflisten