Proceedings / 5th International Workshop on Microprocessor Test and Verification common challenges and solutions ; Austin, Texas, September 9 - 10, 2004

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	International Workshop on Microprocessor Test and Verification (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Abadir, Magdy S. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2005
Schlagworte:	Konferenzschrift
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