Optical design and testing II 8 - 12 November 2004, Beijing, China
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Bellingham, Wash.
SPIE
2005
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Schriftenreihe: | SPIE proceedings series
5638 |
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ISBN: | 0819455938 0-8194-5593-8 |
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