NanoESCA - Entwicklung eines abbildenden Photoelektronen-Spektrometers zur hochauflösenden Material- und Defektanalyse : Abschlussbericht 2004

NanoESCA - Entwicklung eines abbildenden Photoelektronen-Spektrometers zur hochauflösenden Material- und Defektanalyse Abschlussbericht 2004

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: OMICRON NanoTechnology GmbH (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Funnemann, Dietmar (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Taunusstein u.a. 2004
Schlagworte:
Forschungsbericht > Photoelektronenspektrometer
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