Optical systems degradation, contamination, and stray light effects, measurements, and control ; 2 - 5 August 2004, Denver, Colorado, USA

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Chen, Philip T. C. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2004
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 5526
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Beschreibung
Beschreibung:VIII, 274 S
ISBN:0819454648
0-8194-5464-8