Film thickness measurements on five fluid formulations by the mercury squeeze film capacitance technique

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Jones, William R. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington, DC National Aeronautics and Space Administration 1976
Schriftenreihe:	NASA technical note D 8171
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