A two-parameter scintillation spectrometer system for measurement of secondary proton, deuteron, and triton distributions from materials under 558-MeV-proton irradiation

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Beck, Sherwin M. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington, DC National Aeronautics and Space Administration 1975
Schriftenreihe:	NASA technical note D 7925
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