Two- and three-dimensional vision systems for inspection, control, and metrology : 29 - 30 October 2003, Providence, Rhode Island, USA

Two- and three-dimensional vision systems for inspection, control, and metrology 29 - 30 October 2003, Providence, Rhode Island, USA

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Batchelor, Bruce G. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2004
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 5265
Schlagworte:
Computer vision > Imaging systems > Three-dimensional display systems > Optical pattern recognition systems > Quality control > Optical methods > Optical measurements > Metrology > Konferenzschrift
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