Papers selected from the 2002 Symposium on Electrical Overstress/Electrostatic Discharge (EOS/ESD) and mems reliability [in Charlotte, North Carolina, USA, 8 - 10 October, 2002]
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Oxford
Pergamon
2003
|
| Schriftenreihe: | Microelectronics reliability Special section
43.2003,7 |
| Schlagworte: | |
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