Sixth International Conference on Quality Control by Artificial Vision : 19 - 22 May 2003, Gatlinburg, Tennessee, USA

Sixth International Conference on Quality Control by Artificial Vision 19 - 22 May 2003, Gatlinburg, Tennessee, USA

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Conference on Quality Control by Artificial Vision (VerfasserIn), Battelle Memorial Institute (BerichterstatterIn), IEEE Signal Processing Society (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Tobin, Kenneth W. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2003
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 5132
Schlagworte:
Quality control > Congresses > Computer vision > Imaging systems > Pattern recognition systems > Optical detectors > Konferenzschrift > Qualitätskontrolle > Maschinelles Sehen
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Beschreibung
Beschreibung:XII, 594 S
ISBN:0819449989
0-8194-4998-9