Noise in Devices and circuits : 2 - 4 June 2003, Santa Fe, New Mexico, USA ; [part of SPIE's First International Symposium on Fluctuations and Noise]

Noise in Devices and circuits 2 - 4 June 2003, Santa Fe, New Mexico, USA ; [part of SPIE's First International Symposium on Fluctuations and Noise]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Fluctuations and Noise (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Deen, M. Jamal (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2003
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 5113
Schlagworte:
Electronic circuits > Congresses > Electronic noise > Electric circuits > Electric noise > Konferenzschrift > Elektronisches Bauelement > Rauschen
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Beschreibung
Beschreibung:XXI, 516 S
ISBN:0819449733
0-8194-4973-3