Integrated optical devices fabrication and testing ; 30 October - 1 November 2002, Brugge, Belgium

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Righini, Giancarlo C. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2003
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 4944
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