Rottura per elettromigrazione delle connessioni di alluminio nei circuiti integrati

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:R.C. LXXIII Riunione A.E.I. ; 1972,3
1. Verfasser: Bobbio, Andrea (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Saracco, Olimpio (VerfasserIn), Riva, Regino (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ita
Veröffentlicht: Torino 1972
Schriftenreihe:Istituto Elettrotecnico Nazionale Galileo Ferraris 1323/1324
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