Rottura per elettromigrazione delle connessioni di alluminio nei circuiti integrati

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	R.C. LXXIII Riunione A.E.I. ; 1972,3
1. Verfasser:	Bobbio, Andrea (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Saracco, Olimpio (VerfasserIn), Riva, Regino (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ita
Veröffentlicht:	Torino 1972
Schriftenreihe:	Istituto Elettrotecnico Nazionale Galileo Ferraris 1323/1324
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Titel	Jahr	Verfasser
Apparecchiatura e metodo di prova per indagini sul periodo di giovinezza di circuiti integrati logici	1972	Paloschi, Paolo