Hierarchical test generation for digital circuits represented by decision diagrams

Hierarchical test generation for digital circuits represented by decision diagrams

Zugl.: Tallinn, Techn. Univ., Diss., 2001

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Raik, Jaan (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Tallinn TTU Press 2001
Schriftenreihe:Thesis on informatics and system engineering 8
Schlagworte:
Digital integrated circuits > Testing > Flow charts > Decision trees > Hochschulschrift
Online Zugang:Table of contents only
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: Tallinn, Techn. Univ., Diss., 2001
Includes bibliographical references p. 103 - 108
Beschreibung:108 p
ISBN:9985592492
9985-59-249-2