Measuring the intensity of knowledge flow with patent statistics

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Economics letters
1. Verfasser: Fung, Michael Ka-yiu (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Chow, William W. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2002
Schlagworte:
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