Untersuchung des Einflusses unterschiedlicher Dotierungen auf die elektronische Struktur von deponierten Einzelfullerenen mittels Rastertunnelspektroskopie

Köln, Univ., Diss., 2001

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Wirth, Ingo (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	2001
Schlagworte:	Hochschulschrift > Fullerene > Rastertunnelmikroskopie
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