Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy QM 2000 dimensional measurements in the micro- and nanometre range, applications, challenges, state-of-the-art ; January 12th - 14th , 2000, Semmering, Austria

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	Physikalisch-Technische Bundesanstalt (BerichterstatterIn), Seminar on Quantitative Microscopy (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Hasche, Klaus (HerausgeberIn), Mirande, Werner (BerichterstatterIn), Wilkening, Günter (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bremerhaven Wirtschaftsverl. NW, Verl. für neue Wissenschaft 2000
Schriftenreihe:	PTB-Bericht Fertigungsmesstechnik 39
Schlagworte:	Konferenzschrift > Forschungsbericht > Quantitative Mikroskopie > Nanostruktur
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!