Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy QM 2000 : dimensional measurements in the micro- and nanometre range, applications, challenges, state-of-the-art ; January 12th - 14th , 2000, Semmering, Austria

Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy QM 2000 dimensional measurements in the micro- and nanometre range, applications, challenges, state-of-the-art ; January 12th - 14th , 2000, Semmering, Austria

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (BerichterstatterIn), Seminar on Quantitative Microscopy (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Hasche, Klaus (HerausgeberIn), Mirande, Werner (BerichterstatterIn), Wilkening, Günter (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bremerhaven Wirtschaftsverl. NW, Verl. für neue Wissenschaft 2000
Schriftenreihe:PTB-Bericht Fertigungsmesstechnik 39
Schlagworte:
Konferenzschrift > Forschungsbericht > Quantitative Mikroskopie > Nanostruktur
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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