Scattering and surface roughness III 1 - 2 August 2000, San Diego, USA

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Gu, Zu-Han (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 2000
Schriftenreihe:	SPIE proceedings series 4100
Schlagworte:	Surface roughness > Measurement > Light > Scattering > Electromagnetic waves > Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

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