Scattering and surface roughness III : 1 - 2 August 2000, San Diego, USA

Scattering and surface roughness III 1 - 2 August 2000, San Diego, USA

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Gu, Zu-Han (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2000
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 4100
Schlagworte:
Surface roughness > Measurement > Light > Scattering > Electromagnetic waves > Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:VII, 222 S
Ill., graph. Darst
ISBN:081943745X
0-8194-3745-X