X-ray microscopy : proceedings of the sixth international conference, Berkeley, CA, 2 - 6 August 1999

X-ray microscopy proceedings of the sixth international conference, Berkeley, CA, 2 - 6 August 1999

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: XRM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Meyer-Ilse, Werner (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Melville, NJ American Institute of Physics 2000
Schriftenreihe:AIP conference proceedings 507
Schlagworte:
Konferenzschrift > Röntgenmikroskopie
Online Zugang:Abstracts
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