Machine vision applications in industrial inspection VIII 24 - 26 January 1999, San Jose, California

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	Society for Imaging Science and Technology (BerichterstatterIn), Conference on Machine Vision Applications in Industrial Inspection (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Tobin, Kenneth W. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 2000
Schriftenreihe:	SPIE proceedings series 3966
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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