Three-dimensional imaging, optical metrology, and inspection V

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Conference on Three-Dimensional Imaging, Optical Metrology, and Inspection (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Harding, Kevin G. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 1999
Schriftenreihe:	SPIE proceedings series 3835
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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