Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the seventh International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7 - 10 September, 1997

Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 proceedings of the seventh International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7 - 10 September, 1997

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: DRIP (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Donecker, J. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bristol u.a. Inst. of Physics Publ. 1998
Schriftenreihe:Institute of Physics conference series 160
Schlagworte:
Semiconductors > Defects > Image processing > Congresses > Konferenzschrift
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