Degradation von MOS-Bauelementen durch optische Generation von Ladungsträgern

Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1995

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Scharf, Stefan (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Berlin Hahn-Meitner-Inst. 1995
Schlagworte:	Hochschulschrift
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1995
Beschreibung:	125 S graph. Darst